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介質(zhì)損耗試驗的目的

  介質(zhì)損耗試驗的目的是通過測量介質(zhì)損耗因數(shù)來判斷設(shè)備絕緣性能。一般使用西林電橋、電流比較型電橋、M型介質(zhì)試驗器等儀器進行試驗。

測量介質(zhì)損耗因數(shù)在預(yù)防性試驗中是*的項目。因為電氣設(shè)備介質(zhì)損耗因數(shù)太大，會使設(shè)備絕緣在交流電壓作用下，許多能量以熱的形式損耗，產(chǎn)生的熱量將升高電氣設(shè)備絕緣的溫度，使絕緣老化，甚至造成絕緣熱擊穿。

絕緣能力的下降直接反映為介質(zhì)損耗因數(shù)的增大。進一步就可以分析絕緣下降的原因，如：絕緣受潮、絕緣油受污染、老化變質(zhì)等等。

所以，在出廠試驗時要進行介質(zhì)損耗的試驗，運行中的電氣設(shè)備亦要進行此種試驗。測量介質(zhì)損耗的同時，也能得到試品的電容量。電容量的明顯變化，反映了多個電容中的一個或幾個發(fā)生短路、斷路。

擴展資料

在交流電壓作用下，電介質(zhì)要消耗部分電能，這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量電介質(zhì)的損耗。

當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時，電介質(zhì)中的電壓和電流間存在相角差Ψ，Ψ的余角δ稱為介質(zhì)損耗角，δ的正切tgδ稱為介質(zhì)損耗角正切。

tgδ值是用來衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。儀器測量線路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路（Cn）和一被試回路（Cx）。

標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測量線路組成，被試回路由被試品和測量線路組成。測量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。

通過測量電路分別測得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位等，再由單片機運用數(shù)字化實時采集方法，通過矢量運算便可得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。